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STIL光谱共焦技术获得全球专利,符合ISO25718-602标准,可测量物体的粗糙度、段差、厚度及多层厚度、位移、尺寸、外形轮廓、瑕疵,具有亚微米级超高精度,可测量任何材质的物体表面,不产生温度和能量,不受环境光源的影响,镜面测量角度可达±44º。颠覆传统激光三角测距法,完美解决传统激光三角测距存在的测量盲区、上下表面位置错位、光斑大、测量稳定性差、发热、易受环境光源影响等问题。公司产品涵盖:从0.1μm到100mm测量行程的点光谱共焦传感器、从1.8mm到45mm线长的不同测量行程的线光谱共焦传感器、MC2视觉检测系统、3D测量系统。
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